Архітектура і операційні середовища комп’ютерних систем

Термінологія аналітичного вимірювання

Мікроелектроніка і наноелектроніка. Вступ до спеціальності

ЛЕМ Станіслав – Фіаско

ПОЛОЖЕННЯ про критерії та порядок оцінювання навчальних досягнень здобувачів освіти